Yayın Detayları

Yazar:A. Doğanaksoy, F. Sulak, M. Uğuz, O. Şeker, Z. Akcengiz
Başlık: Mutual Correlation of NIST Statistical Randomness Tests and Comparison of Their Sensitivities on Transformed Sequences
Kategori:Makale
İndis:Science Citation Index (expanded)
Yayınlandığı Yer:Turkish Journal of Electrical Engineering and Computer Sciences
Yıl:2017
Sayı:25-2
Sayfalar:pp. 655-665
Ev Sahibi Şehir:
İndirme Bağlantısıİndir
URLdoi:10.3906/elk-1503-214